Nouvel algorithme de déconvolution des profils d’analyse par spectrométrie de masse des ions secondaires

  • Nadia DAHRAOUI Univ. Ouargla, Faculté des Nouvelles Technologies de l’Information et de la Communication, Département d’Electronique et Télécommunications, Ouargla 30000, Algérie.
  • M’hamed BOULAKROUNE Univ. Ouargla, Faculté des Nouvelles Technologies de l’Information et de la Communication, Département d’Electronique et Télécommunications, Ouargla 30000, Algérie.
Keywords: SIMS, déconvolution multi-résolution, résolution en profondeur, DRF, delta-dopage, débruitage par ondelettes

Abstract

Le but terminal de ce travail est l’amélioration de la résolution en profondeur, au-delà de ses limites physiques et instrumentales, de l’analyse par SIMS. Pour ce faire, nous avons adopté un algorithme de déconvolution multirésolution post érosion pour surmonter les limites des algorithmes monorésolution proposé dans ce domaine à ce jour. En effet, cet algorithme se base sur la régularisation de Tikhonov-Miller avec modèle de solution, ce dernier est un signal débruité par décomposition sur une base d’ondelettes. Les résultats de ce traitement sont très satisfaisants, En particulier l’ordre de grandeurs des gains en résolution en profondeur et en maximum de pics. De plus, les profils déconvolués ne contiennent pas des oscillations et artefacts qui sont dus principalement à la présence du bruit dans les profils mesurés.

Published
2016-05-08
How to Cite
DAHRAOUI, N., & BOULAKROUNE, M. (2016). Nouvel algorithme de déconvolution des profils d’analyse par spectrométrie de masse des ions secondaires. Annals of Science and Technology, 8(1), 8. Retrieved from https://journals.univ-ouargla.dz/index.php/AST/article/view/295